真理光学仪器有限公司秉持“科学态度，工匠精神”，定位于高端颗粒表征仪器制造，专注于颗粒表征仪器的基础理论研究、技术创新、质量管控和应用解决方案，立志于成就高端颗粒仪器。产品涵盖激光（衍射法）粒度分析、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪，既有实验室仪器，又有在线检测系统。
真理光学汇聚了以张福根博士为首的中国颗粒表征领域顶尖人才。张福根博士为中国颗粒表征标准化技术委员会副主任委员、曾担任中国颗粒学会副理事长，同时也是天津大学兼职教授和欧美克旗下多家公司的创始人。此外，曾担任英国马尔文仪器（中国）总经理20余年的秦和义先生，中国颗粒学会青年理事潘林超博士后，中国颗粒学会青年理事陈进博士以及多位在颗粒学和粉体技术领域具有丰富经验和工作成就的精英人才均在公司就职。
在短短的几年间，真理光学的团队已取得一系列具有突破性的创新成果。在激光粒度仪方面，发现了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球，并给出了反常区（不能测量粒径）的一般公式; 提出了斜置梯形窗口技术方案（专利），解决了前向超大角测量盲区的问题，使仪器的亚微米颗粒测量水平显着提高 ;提出了统一的反算法（专有技术），解除了不同模式有不同结果的尴尬；设计出了高达20kHz的超高速并行数据采样电路，使干法测量的精度不亚于湿法测量，对高速喷雾场的测量（时间）分辨率也更高。
在纳米粒度及Zeta电位仪方面，真理光学提出了比相位分析法（PALS）更先进的余弦拟合法（CFLS），用光纤分光取代了传统的平板分束镜分光，用光纤内光干涉取代了自由空间干涉，使Zeta电位的测量重复性大幅度提高，远超国内外此类仪器指标。
凡是过往，皆为序章，真理光学将一直保持着追梦赤子心，以科学精神为引领，以科学原理为准绳，以科学态度求真理，为客户提供真正创新的技术方案；为颗粒表征涉及到的几十个行业提供高端先进可靠的仪器设备；为颗粒表征行业与中国粉体工业的发展贡献情怀与力量！
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